X射线镀层测厚仪（iEDX-150WT）_广东益龙电子科技有限公司

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X射线镀层测厚仪（iEDX-150WT）

仪器用途该仪器适用于各金属元素镀层厚度的测量，如PCB中的金、镍、银、锡等，为品质保证及成本控制提供有利的管控。仪器特点多镀层检测，检测层数范围1-5层可同时选配RoHS检

仪器用途

该仪器适用于各金属元素镀层厚度的测量，如PCB中的金、镍、银、锡等，为品质保证及成本控制提供有利的管控。

仪器特点

多镀层检测，检测层数范围1-5层

可同时选配RoHS检测功能，精确的测试RoHS指令中的铅、柔、铺、错、顿、锦、砸、肺等重金属，测试无卤素指令中的滇、氯等有害元素

可同时选配镀液药水分析功能，一分钟即可分析出药水内金，镇，铜等药水含量，分析精度为0.01ppm.开槽式超大全自动平台（610 ×525 mm （长×宽），样品移动距离可达110×110×5mm （（长×宽×高），专为线路板行业研制

激光定位，可以连续自动多点程控测量

可以选配多准直器系统，最多可配／7个准直器

标配德国Amptek Si-Pin 探测器，选配高精度SDD探测器，可实现更高的测试精度．

相对于传统镀层测厚仪，开机不需要预热，提升效率

基本参数：

项目	标配	选配
检测元素范围	Al(13)-U(92)	/
平台	固定	自动（平台尺寸::610X 525mm，样品移动距离：110X110X5mm）
准直器	单准直器系统0.2/0.3mm	0.05/0.1/0.2/0.3/0.5/1/4mm共7种规格可选，也可定制特殊型号
X光管	50KV 1mA，MO靶，光斑尺寸75um,使用寿命>15,000小时	50KV 1mA，MO靶，光斑尺寸50um,使用寿命>15,000小时
探测器	半导体Si-Pin探测器，分辨率159eV	超高分辨率（159eV）SDD探测器
视频系统	高分辨率CCD摄像头、彩色视频系统，观察范围：3 ×3mm.放大倍数：40X	/
样品定位	显示样品锁定、简易荷载、激光定位及拍照功能	/
软件	标配Multi-Ray镀层分析软件	1、选配ROHS分析软件；2、选配合金分析软件；3、选配药水分析软件
分析样品类型	液体/固体/粉末	/
附件	含电脑、显示器、打印机