多毛细管镀层测厚仪（iEDX-150uWT））
- 仪器用途 该仪器适用于各金属元素镀层厚度特高精度测量，如PCB中的金、镍、银、锡等，为品质保证及成本控制提供有利的管控。 仪器特点 采用微聚集多毛细管系统，测试点达到35u
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仪器用途
该仪器适用于各金属元素镀层厚度特高精度测量，如PCB中的金、镍、银、锡等，为品质保证及成本控制提供有利的管控。
仪器特点
采用微聚集多毛细管系统，测试点达到35um
多镀层检测 ，检测层数范围1-5层
超高测试精度：0.001um
开槽式超大全自动平台，样品台移动距离可达110×110×5mm （长×宽×高 ）
激光定位和自动多点测量功能
高精度SDD探测器 ，可实现更高的测试精度．
可进行未知标样扫描、无标样定性、半定量分析
规格参数
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项目 |
技术参数 |
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检测元素范围 |
Al(13)-U(92) |
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平台尺寸 |
自动，520X520mm |
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移动距离 |
250X250X5mm |
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X光管 |
50KV 1mA，MO靶，光斑尺寸35um |
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探测器 |
SDD探测器，分辨率125±5eV |
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分析方法 |
FP/校准曲线 |
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分析样品类型 |
液体/固体/粉末 |
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附件 |
含电脑、显示器、打印机 |